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日本愛泰克ETAC導(dǎo)通可靠性評價系統(tǒng)P為代表的高密度封裝部件，因為集成塊和基板的熱膨脹系　　數(shù)不同，在焊接點處產(chǎn)生應(yīng)力集中。結(jié)果將會發(fā)生接點破裂。試驗槽　　內(nèi)微電阻測試法，就是將這破裂發(fā)生時的時間和低溫、高溫下的電阻　　值正確地測試出來。這與過去的手動測試法比較，通過全自動測試，　　給出統(tǒng)計解析結(jié)果，使測試效率大大提高。

日本愛泰克ETAC絕緣劣化特性評價系統(tǒng) 在設(shè)定的溫濕度環(huán)境中，在通電的狀態(tài)下，對材料或部件的絕緣電阻值進行連續(xù)測試的系統(tǒng)。即，樣品邊做溫濕度試驗，邊測試其絕緣電阻值。